Røntgenfluorescens (XRF)
Hva er røntgenfluorescens?
Røntgenfluorescens, vanligvis forkortet XRF etter engelsk X-ray fluorescence, er en metode for å undersøke hvilke grunnstoffer et materiale inneholder. Røntgenstråling treffer et avgrenset område, og instrumentet måler karakteristisk stråling fra materialet. Bærbare XRF-instrumenter brukes blant annet til analyse av metaller og kulturhistoriske gjenstander.
Hva kan en XRF-måling fortelle?
Målingen kan gi informasjon om grunnstoffene i området som undersøkes. Når den utføres uten prøvetaking, kan undersøkelsen være ikke-destruktiv. XRF er likevel ikke et stempel, en produsentidentifikasjon eller en fullstendig ekthetskontroll. Resultatet må tolkes av en fagperson og sammenholdes med andre kjennetegn, som finhetsstempler og gjenstandens konstruksjon.
Begrensninger ved overflatemåling
XRF undersøker overflaten eller et nærliggende sjikt, ikke automatisk hele gjenstanden. Korrosjon, forsølving eller forgylling kan gjøre at den målte overflaten ikke svarer til metallet under. Målepunktets form og tilstand har også betydning. På en uregelmessig eller sammensatt gjenstand kan én måling derfor ikke nødvendigvis beskrive alle delene. Et resultat bør ikke alene brukes til å fastslå legering eller finhet dersom overflaten ikke er representativ.
Ved forsølvede varer, som EPNS, må et overflateresultat ikke forveksles med en analyse av kjernen. Målemetode, instrumentinnstillinger og faglig vurdering påvirker hva man kan konkludere med.
Fagkilder
- Canadian Conservation Institute: XRF-spektrometri, om analyse av blant annet metall og kulturhistoriske materialer.
- Canadian Conservation Institute: Identifying Archaeological Metal, om overflateanalyse og hvorfor den ikke alltid viser grunnmaterialets sammensetning.
